1．天平精度：±10μg，称重：210 g； 2．表面张力测量范围：1-1000 mN/m，测量精度±0.001 mN/m； 3．密度测量范围：0.5-2.5 g/cm3，精度±0.001 g/cm3； 4．接触角测量范围：0-180°，分别率：±0.01°； 5．样品台提升速度：0.099-500 mm/min，位移分辨率：0.01μm； 6.温度控制范围：-10-130℃，温控精度：0.01℃。^[1]

广泛应用于物理学，材料科学，生命科学，化学等学科领域。^[1]