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供应德国菲希尔测厚仪FMP30便携涡流法感应测厚仪

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参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:FMP30
  • 品牌:
  • 产品类别:涂层检测仪
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2023-03-24 07:15:56
  • 浏览次数:6
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产品简介

德国菲希尔测厚仪FMP30便携涡流法感应测厚仪简介FMP10/FMP20/FMP30/FMP40系列FMP10—FMP40 系列手持式涂镀层厚度测量设备可提供精确的测量结果,多种测量技术使其具有高度的灵活性

详情介绍

德国菲希尔测厚仪FMP30便携涡流法感应测厚仪


简介

FMP10/ FMP20/ FMP30/ FMP40 系列

FMP10—FMP40 系列手持式涂镀层厚度测量设备可提供精确的测量结果,多种测量技术使其具有高度的灵活性。包括采用磁感应测量(DELTASCOPE®)、电涡流测量 (ISOSCOPE®) 或同时结合两种方法 (DUALSCOPE®) 的多种型号。通过为这些仪器配备不同的探头,您可以为几乎所有测量任务快速创建相应的解决方案。



德国菲希尔FISCHER FMP30高精度涂层测厚仪,DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪采用了磁性测厚法,DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪是一种超小型测量仪,DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪采用了磁性测厚法,DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪是一种超小型测量仪,DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪适合于使用在不需要全部测量数据存储,评估和输出,但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同种类的探头以适应各种应用情况。探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中,因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。



DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪配备有一个的和便于读取的 60 x 30 mm (" x "))液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便,包括单个测量读数,测量次数,以及显示操作模式和设置的图标和符号,2行文本各16个字母或可自由选择的符号用于显示数据和操作员提示。

DELTASCOPE FMP30涂层测厚仪采用根据DIN EN ISO 2178, ASTM B499标准的电磁感应方法,适用于测量:





ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪:

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪特别适用于工程现场高精度的测量;


ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪配合涡流探头:


,测量范围:0 - 1200 μm

,订货号:604-141,测量范围:0 - 2000 μm


ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪适合于使用在不需要全部测量数据存储,评估和输出,但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同种类的探头以适应各种应用情况。探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中,因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。


ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪有一个的和便于读取的60 x 30 mm (" x ")液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便,包括单个测量读数,测量次数,以及显示操作模式和设置的图标和符号,2行文本各16个字母或可自由选择的符号以用于显示数据和操作员提示。


ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪采用根据DIN EN ISO 2360, ASTM B244标准的电涡流方法,适用于测量:

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪常用涡流探头:,订货号:604-142,测量范围:0 - 1200 μm,测量精度:0~50μm,± μm;50~8000μm,± %;800~1200μm,< %

DELTASCOPE FMP30涂层测厚仪常用磁性探头:,订货号:604-141,测量范围:0 - 2000 μm(45 mils)。测量精度:0~50μm,± μm;50~8000μm,± %;800~1200μm,< %




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