德国KK特别适合于粗晶粒材料检测测头WRY70 WSY45-4 +KSY

美国GE收购了德国KK的产品。

用于结构复杂，空间接触面积受限制的工件

SMWB型

小晶片斜探头，频率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可选，Microdot接头。

②K…M…型

各频率小晶片直探头，（外径，高度3mm），Microdot接头或固定细探头线。可提供接触面直径为2mm的锥形延迟块。

③WSY型

90º爬波探头，Lemo00接头，用来检测难以接近的位置。

注释：

爬波在工件表面下沿直线传播。它并不像表面波一样沿着表面传播。所以有些用其他超声波无法检测到的缺陷可以用爬波检测到。这种探头必须很好的与材料表面贴合在一起才能产生爬波。

不用耦合剂（干耦合）检测

如果在检测工件表面不能使用液体耦合剂，某些情况下可以使用塑料来代替。

用塑料箔或塑料冒安装在探头前面保证探头和检测工件耦合。滚筒探头，

B1KS，B1KE型带有特殊接触面可以在没有耦合的情况下连续检测。在这种情

况下，保证探头和被检物件表面的清洁是十分重要的，因为工件表面的脏物会

使探头不能与工件耦合。这种技术尤其适合于塑料检测。详情请参见SD261。

用于粗晶材料的检测（铸件和奥氏体材料）

很多用于检测粗晶材料的探头都得到成功应用，现在已成为标准探头。

包括：

① K…S，K…SM

各频率高分辨率直探头，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接头，通过螺纹固定保护膜，延迟线和斜楔。

②WRY…，WSY…

45º，60º，70º纵波斜探头，高分辨率，频率2MHZ。WSY…频率4MHZ，Lemo00接头。

③VRY…，VSY…

45º，60º，70º，2MHZ纵波双晶斜探头。VSY…4MHZ，Lemo00接头。如果您需要与上述标准探头频率、入射角、接头型号不同的探头，请联系我们，我们将给您提供探头，使其能满足您的应用需求。

德国KK特别适合于粗晶粒材料检测测头WRY70 WSY45-4 +KSY