美国GE检测粗晶材料 原始铸造材料 奥氏体 奥氏体焊缝探伤仪探头
纵波探头能适用于检测粗晶材料、原始的铸造材料，奥氏体和奥氏体焊缝等。
对于，由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致，这样容易造成缺陷漏检。所以，粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝，并得到一些满意的结果，这主要取决于被检测材料的声学特性。我们一直致力于解决这个问题，我们选择不同焦点的和TR探头进行实验，得到检测粗晶材料的参数。
与此同时，我们得到了奥氏体材料制造商的大力支持。根据我们的经验和实验，我们针对各种粗晶粒材料设计了相应的探头，这些探头都取得了的效果。此外，这些测试结果还获得了信噪比，并且所有的粗晶探头都通过。
美国GE检测粗晶材料 原始铸造材料 奥氏体 奥氏体焊缝探伤仪探头
具有可更换保护膜的 | 频率（MHZ） | 接触面（mm） | 尺寸Φ(mm) |
| ||
| 40 | 34 | 高阻尼 |
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1 | 40 | 34 | 高灵敏度 | |||
1 | 33 | 28 | 非常好的信噪比 | |||
40 | 34 | |||||
1 | 40 | 34 | 高阻尼，高信噪比 | |||
1 | 30 | 24 | 复合材料压电晶片 | |||
2 | 30 | 24 | 灵敏度和信噪比 | |||
—单晶系列，复合材料压电晶片 | 频率（MHZ） | 接触面（mm） | 角度（ °） | 深度范围 | 要求的探头线 | |
WRY 60 WSY 45-2 WSY 60-2 WSY 45-4 WSY 70-4 | 2 2 2 2 2 2 4 4 4 | 48 x 25 48 x 25 48 x 25 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 | 45 60 70 45 60 70 45 60 70 | 5 - 100 5 - 80 5 - 55 6 - 25 4 - 20 3 - 15 3 - 30 3 - 20 2 - 15 | }MPKL 2 } }MPKL 2 | |
双晶系列—复合材料压电晶片 | 频率（MHZ） | 接触面（mm） | 角度（ °） |
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1,8 1,8 1,8 4 44 | 53 x 29 53 x 29 53 x 29 30 x 15 30 x 15 30 x 15 | 45 60 70 45 60 70 | 15 - 70 10 - 60 5 - 45 2 - 30 - 20 - 20 | }SEKL 2 }SEKN 2 | ||
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