Surfix SX-菲尼克斯Surfix SX分离式探头涂层测厚仪-珠海天创仪器有限公司

详情介绍：

菲尼克斯Surfix SX分离式探头涂层测厚仪，德国菲尼克斯，用户可以根据自己测量需求选择合适的探头型号，满足各种不同场合的测量需求。

菲尼克斯Surfix SX分离式探头涂层测厚仪是德国菲尼克斯生产涂层测厚仪，外置分离探头，具有磁性涡流两种测量原理，适用于测试**的金属底材，具有自动识别功能。

菲尼克斯Surfix SX分离式探头涂层测厚的**测量探头均由硬质合金制成，这意味着它具有很高的使用寿命。前端塑料帽设计有一个V型槽，因此其能够稳定且垂直地定位在水平面、柱面或是弯曲面上。无论是对于需要使用简易方式测量涂层厚度，还是需要统计评估的用户来说，Surfx® 简易系列都是一种理想的仪器，它是一种无磨损测量，是“德国制造"的高品质产品。
1.测量探头大，测量稳定
2.无需校准，可现实测量值、平均值等统计参数
3.适用于高铁、粉末喷涂，,油漆车间，汽车，造船，建材工业等领域
4.探头均由硬质合金制成，实验室实验测量100万次以上不磨损。
特点
+ 革新和人性化的测量工艺：打开就能测量
+ 水平面、粗糙面和弯曲面上均可测量
+ F型用于铁/钢测量

+ FN 型用于铁/钢以及有色金属测量
+ FN型自动识别基材
+ FN型轻松检测到漆涂层下的锌层
+ 免校准测量
+ 在线统计（n,x,s,min,max）
+ 大接触面以确保定位准确
+ 测量时发出声频信号
+ 可切换 μm/mils
+ 制造商出厂检测证书

菲尼克斯Surfix SX分离式探头涂层测厚仪主机
主机型号	可接探头	主机图片	校准方式	内存	数据传输	统计功能
SX—标准型	FN F N		工厂校准，零校准	2000个	USB2.0	n, x, s, min., max, Kvar, cp, cpk 测量值数量、平均读数、标准差、大和小值
Pro X—上等型	FN F N		工厂校准，零校准，标准片校准（2片），CTC校准	100000个	USB2.0和蓝牙4.0	n, x, s, min., max, Kvar, cp, cpk 测量值数量、平均读数、标准差、大和小值

显示信息	SX、 Pro X---彩屏，背光灯
电池类型	2xAA 干电池，也可使用充电电池
电池寿命	以每秒1个读数，可连续工作*长24小时 ⁵
仪器尺寸（高x宽x长）	SX、 Pro X 137×66×23mm
仪器重量	SX、 Pro X : 223g
操作温度	0－ 60℃
证书类型	出厂校准证书
包装清单	SX—标准型	主机、橡胶防护套、2 个校准膜、零标准片 (铁/铝)、2 节AA电池、PHYNIX.USBt传输软件、使用手册、制造商证书、包装箱
	Pro X—特级型	主机、橡胶防护套、2 个校准膜、零标准片 (铁/铝)、2 节AA电池、PHYNIX.USBt传输软件、使用手册、制造商证书、包装箱