II类全自动冲击电流测试系统LCG 30S属我司自主发的冲击电流测试发生器，主要用于MOV、TVS、GDT、SPD等浪涌保护装置进行模拟雷击试验，也可用于其它的科学研究，具有系统集成度高、控制智能化，操作简便等优点。可通过主回路单元的不同组合，将输出分为多个等级，实现拓宽输出范围的测试能力。本系列设备采用全自动控制，只须在参数设置页面进行简单的试验需求设置，即可一键自动运行测试。
II类全自动冲击电流测试系统LCG 30S
优点：
1.采用开放式结构，简洁美观；
2.采用立体向心式布局，回路电感量小，放电均匀；
3.设备需安装在独立的测试房间，安装门禁系统，保证用户的安全；
4.操作方便灵活，可以集成较高的自动化控制，自动循环控制；
5.可搭配crowbar触发系统进行10/350us波形试验，可输出100kA；
6.针对不同的测试目的，可配合不同的波形发生网络，产生各种输出波形；
7.配置MCS2000自动控制系统。

S46T-18 最多为 32 端接继电器，包括 18 和 26.5GHz GPIB 全机架，2U

"4200A-SCS-PK1 

高分辨率 IV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率 

对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括：

4200A-SCS 参数分析仪

(2) 4200-SMU 模块

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

"4200A-SCS-PK2 

高分辨率 IV 和 CV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 

对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

4200A-SCS 参数分析仪

(2) 4200-SMU 模块

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 电容-电压模块

(1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

"4200A-SCS-PK3 

高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件" "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 

对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

4200A-SCS 参数分析仪

(2) 4200-SMU 模块

(2) 4210-SMU

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 电容-电压模块

(1) 8101-PIV 测试夹具与采样设备"

"4200-BTI-A 

超快 NBTI/PBTI 套件" "用于使用* CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括：

(1) 4225-PMU 超快 I-V 模块

(2) 4225-RPM 远程前置放大器/开关模块

自动化检定套件 (ACS) 软件

超快 BTI 测试项目模块

电缆"

2600-PCT-1B 低功率 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A - US $26,600

2600-PCT-2B 高电流 200 V/10 A 200 V/10 A 40 V/50 A 40 V/50 A - US $45,300

2600-PCT-3B 高压 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 200 V/10 A 200 V/10 A - US $52,600

2600-PCT-4B 高电流和高电压 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 40 V/50 A 40 V/50 A - US $71,400

S500 - 配置与报价

S530. - 配置与报价

S535 - 配置与报价

S540 - 配置与报价

708B 单槽半导体开关矩阵，具有高达 96 个相交点

707B 六槽半导体开关矩阵，具有高达 576 个相交点

ACS-BASIC ACS 基础版主要适合通过手动探头测试台和测试夹具进行半导体元器件测试。通过“谱线模式”快速地以交互方式执行初始器件检定。或者，使用基于 GUI 的设置屏幕和广泛的测量库创建详细的参数提取测试。

ACS. ACS 支持各种半自动和全自动探头在整个晶片上对半导体器件进行测量。 或者，以交互方式控制探头测试每个器件。 在运行时期间，通过单器件结果和多器件统计监视测试进度。

PSPL5865 12.5 Gb/s 26 dB 7.5 Vp-p 非逆 2.3 W - US $2,570