变压器变比测试仪操作说明
1、按本说明书（可以找客服索要说明书）接线及注意事项中2、3、4条要求接好电源线、测试线和接地线，打开电源后进入状态（1）。
2、测量之前必须进行参数设置，组别不确定时也可使用自动测量或组别分析功能。在状态（1）将光标指向“参数设置”， 按“确定”键进入状态（2）。


3、MOEN-4506变压器变比测试仪具有参数记忆功能,修改参数或自动测量及组别分析后,参数可自动储存,关机后不丢失,各参数说明如下：
设备编号：可输入最多八位数字或英文字符（如出厂编号），用于标识被测设备和区分内存记录。
接线组别：变压器高低压侧绕组接线组别，如(Y/yn)。
组别标号：用时钟法表示的联接组标号（0—11）。
额定变比：被测变压器额定分接点变压比，若不输入额定变比，测试结果将不显示变比误差。
分接总数：有载调压变压器分接开关分接点总数，若不是有载调压变压器，分接总数应设为1。
分接间距：每一级分接变压比调整的百分比，如（2.5）。
当前分接：当前分接开关分接点所在位置，分接1对应变压比最小的分接点，MOEN-4506根据测量结果自动计算并修改当前分接值，无需输入


如果要修改参数，假如修改额定变比，可移动光标至对应项，按“确定”键，进入状态（3），按数字键及“▲”和“▼”键输入所要的数据（如6.2857），如按错了按键，可按“取消”键重新输入，输入数据后进入状态（4），按“确定”键确认输入，回到状态（2）,显示修改后的数据。修改参数后,参数可自动储存,关机后不丢失。按“取消”或“复位”键回到状态（1）。
4、设定参数全部正确后，可以进行变比测试，在状态（1）使光标指向“变比测试”，按“确定”键进入状态（5），移动光标至所需的测量项目（如自动测试），如外部接线完毕按“确定”键进入状态（6），显示测量结果。此时按“▲”或“▼”键可在状态（6）（2）切换显示。测量结果显示格式说明如下：


KAB表示AB相变比测量值。KBC、KCA与此类同。
xxx.xx_+x.xx%：表示变比测量值和对应相的变比误差百分比。
最下面一行显示当前分接位置和接线组别及组别标号。
各种测试方式说明如下：
三相测试：三相测试可用于本仪器允许的各种联接组别的三相变压器变比的测试，可连续测出三相变比及误差，测试开始前应输入正确的接线组别和组别标号，也可用组别分析功能测出组别标号，正确选择是普通型还是Z-型变，测试结果按状态（6）格式显示三相变比和对应误差，若不输入额定变比则不显示变比误差。
自动测试：自动测试可用于本仪器允许的各种联接组别的三相变压器变比的测试，无须输入任何参数(要正确选择是普通型还是Z-型变)即可自动测出三相变比，测试完毕后接线组别和组别标号设置为实际测量值。
单相测试：单相测试用于单相变压器或电压互感器变比的测试，无须输入组别标号，测试结果显示变比、误差和极性。
组别分析：组别分析用于三相变压器接线组别和组别标号的测量，正确选择是普通型还是Z-型变，测试结果显示高低压侧接线组别和组别标号，并自动按测试结果修改设置参数中的接线组别和组别标号。
5、在状态（6），按“确定”键可进行储存和打印操作，测量结果被储存于内部存储器，并打印测量结果。测试完毕后输出电源自动断开。


6、变压器变比测试仪内存操作：
内部存储器最多可存储160次测量数据，超过160次后最老的记录将被覆盖。内部存储器可在掉电状态下长期保存数据，不会丢失。内存操作方法如下。在状态（1）将光标指向“查看内存”， 按“确定”键进入状态（7）。“xx”表示存储器保存的记录个数，下面三行为操作提示，按“.”键将清除全部内存记录。按“▲”或“▼”键逐个显示记录信息。按“取消”键将结束内存操作，回到状态（1）。在状态（7）按“▲”或“▼”键可进入状态（8）显示一项记录内容，“xx” 表示内存记录总数，“123456”表示设备编号，“2001．06．22-15．33” 表示测量时间（年月日时分），按“0-2”键可按（6）（2）格式显示该记录的各项数据。按“▲”或“▼”键可继续查找其它记录。按“确定”键可打印该项记录内容。按“取消”键将结束内存操作，回到状态（1）。
7、时间设置：
在状态（1）将光标指向“时间设置”， 按“确定”键进入状态（9）。如设置日期，可在状态（9）将光标指向“当前日期”， 按“确定”键进入状态（10）。此时可按数字键输入六位数字，再按“确定”键可使输入生效，并回到状态（9）。设置时间的方法与此步骤相同。按“取消”键将结束时间日期操作，回到状态（1）。