什么是数字（离散）系统的采样周期和控制周期？怎样进行选择？
2025年02月07日 09:23:17
来源：云南昌晖仪表制造有限公司 >> 进入该公司展台
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采样周期是指计算机重新扫描各现场参数的时间间隔，控制周期是指重新扫描计算控制输出的时间间隔。在现场应用中，通常认为采样周期与控制周期是等同的。在生产实际中，采样、控制周期越短，控制的效果越近似连续控制系统，但采样周期太小会使执行器不能按预期的控制规律动作，从而失去控制的准确性：同时还会加重计算机的A/D、D/A与CPU的负担。因此必须综合考虑采样周期的选取。采样周期主要按经验数据、经验公式来选择，经验数据是根据采样定理，并结合实际对象，加上现场经验得到的数据。而经验公式是根据采样定理推导出来的一种近似公式，将系统的采样频率用系统的最小时间常数来反映。只要知道了控制系统中各个环节的最小时间常数，就可以近似得到采样周期的大小。在选择采样周期时应综合考虑以下几个问题:
①采样周期应远小于对象的扰动周期。②采样周期应该比对象的时间常数小得多，不然采样得到的数值就不是瞬间变化的过程值。③如果执行器的响应速度较慢，而要求过短的采样周期是没有意义的。④虽然采样周期短，调节品质好，但还是要根据对象所要求的调节品质来选择。⑤如果现场参数及控制的回路较多，计算量大时，则采样周期要加长；反之，可将采样周期缩短。⑥从控制性能来考虑，希望采样周期短。但计算机运算速度，以及A/D和D/A的转换速度要相应地提高，会导致计算机硬件费用増加。对一些快速系统采样周期可选小些。对惯性大的系统采样周期可选大些。现提供采样周期的经验数据表，供使用参考。
数字(离散)系统的采样周期经验数据表 
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