即使相同的涂层测厚仪不同的人或对不同种类、状态基材上的相同涂层测量出来的数据也可能会存在较大差别这是因为测量人员因素、测量漆膜的基体材质、厚度、表面状况以及测量位置等造成的。因此在使用测厚仪检测涂层厚度时不仅操作方法要正确还必须针对具体基材进行调整。
使用前应仔细阅读仪器使用说明书
不同厂家、不同品牌的仪器在结构、按键、校准等方面各不相同因此使用前必须先仔细阅读仪器的使用说明书避免误操作造成测量数据的错误。
注意金属基体材质
不同金属基体材料的磁性、导电率是不相同的这都会对测量结果造成影响。采用磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的）为了避免热处理和冷加工因素的影响应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，亦可用待涂覆试件进行校准。由于基体金属的成分及热处理方法不同导致其电导率不同因此应使用与被检测试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
注意检测试件形状
在实际生产中工件的材料厚度、形状、表面粗糙度等存在差异这些差异会对实际测量结果造成影响。每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响如果试件材料厚度小于仪器所要求的临界厚度检测结果就会与实际厚度有差别。一些仪器对试件表面形状的陡变十分敏感因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量的数值会不可靠实际测量时应选择远离边缘和内转角的部位。试件表面不仅存在形状的陡变还可能存在不同的曲率一些仪器的测量结果总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此即使在选择仪器时考虑了最小曲率半径测量时仍应尽可能选择在平面部位进行测量。
以上也是在选择测厚仪器时需要考虑最小曲率半径、最小测量面积、最小基体厚度的原因。
另外实际生产中不同工件的表面粗糙度也不尽相同。粗糙程度越大对一些仪器的测量结果影响越大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差每次测量时在不同位置上应增加测量的次数以克服这种偶然误差。这一点很多厂家的仪器使用说明书里都没有指出。我们分别用国产和进口测厚仪在平面上校准后测量抛光后的表面读数在10 ~ 30 μm 不等。也就是说如果按此方法，测量出来的数据比漆膜的实际厚度会大10 ~ 30 μm即漆膜实际厚度达不到设计要求。因此如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置来校对仪器的零点；
用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去涂层后再校对仪器的零点。当然当漆膜厚度为基材表面粗糙度的5 ～ 6 倍时可以将粗糙度忽略。总之仪器的校准必须依据现场被涂工件表面粗糙度来进行。
检测环境
周围各种电气设备所产生的强磁场会严重地干扰磁性法测厚工作使用时应尽量远离强磁场环境。
操作
一些仪器对那些妨碍测头与漆膜表面紧密接触的附着物质比较敏感因此必须清除附着物质以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。测头放置到试件上所施加的压力大小会影响测量的读数因此要保持压力恒定。测头的放置方式对测量也有影响在测量中应当使测头与试样表面保持垂直。另外，通常仪器的每次读数并不相同因此必须在每一测量面积内多读取几个数。漆膜厚度的局部差异也要求在任一给定的面积内进行多次测量表面粗糙时更应如此。

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