可靠性试验的分类

1.1  电子装备寿命期的失效分布

    目前我们认为电子装备寿命期的典型失效分布符合“浴盆曲线”，可以划分为三段：早期失效段、恒定（随机或偶然）失效段、耗损失效段。可参阅图1.2.1。

    早期失效段，也称早期故障阶段。早期失效出现在产品寿命的较早时期，产品装配完成即进入早期失效期，其特点是故障率较高，且随工作时间的增加迅速下降。早期故障主要是由于制造工艺缺陷和设计缺陷暴露产生，例如原材料缺陷引起绝缘不良，焊接缺陷引起虚焊，装配和调整不当引起参数漂移，元器件缺陷引起性能失效等。早期失效可通过加强原材料和元器件的检验、工艺检验、不同级别的环境应力筛选等严格的质量管理措施加以暴露和排除。

  失效率  

     早期                            耗损

      失效     偶然失效段            失效

                                           时间

图1.2.1 电子装备寿命期失效分布的浴盆曲线示意

    恒定失效段，也称偶然失效段，其故障由装备内部元器件、零部件的随机性失效引起，其特点是故障率低，比较稳定，因此是装备主要工作时段。

    耗损失效段，其特点是故障率迅速上升，导致维修费用剧增，因而报废。其故障原因主要是结构件、元器件的磨损、疲劳、老化、损耗等引起。

1.2  试验类型及其分布曲线的变化

    针对电子装备寿命期失效分布的三个阶段，人们在设计制造和使用装备时便有针对地采取措施，以提高可靠性和降低寿命周期的费用。在设计制造阶段，要尽量减少设计缺陷和制造缺陷，即便如此仍然会存在早期失效和随机失效。为此，承制方需要运用工程试验的手段来暴露和消除早期失效，降低随机失效的固有水平。通过这些措施，可以改变产品的寿命分布曲线的形状，可参阅图1.2.2。在耗损阶段，用户可通过维修和局部更新的手段延长装备的使用寿命。

    图 1.2.2 示意了两组产品寿命失效率分布曲线，图中表明产品B的可靠性水平比产品A的优良，因为B的恒定失效率比A的低，B的早期失效段比A的短。如果曲线A和B是同一种产品的不同阶段的失效率分布，则表明该产品经过了可靠性增长试验，取得成效，因此曲线B的恒定失效率大为降低。曲线B的早期失效段示意了B和B’两条，它们表明B比B’的早期失效率为低，显示其工艺和元器件、原材料的缺陷比B’的少，环境应力筛选所需的资源也可较少。

   失效率

               产品A的寿命失效分布

    B’          

       B        产品B的寿命失效分布

                                                时间  

  图1.2.2  装备可靠性试验结果对失效分布曲线形状影响

1.3  装备可靠性试验分类

1.3.1 装备可靠性试验项目分类

    由装备可靠性试验的目的出发，我们把它分为可靠性工程试验和可靠性验证试验两大类，每类试验又包括几种试验项目。

    (1) 可靠性工程试验，其目的在于暴露产品故障以便人们消除它，由承制方进行，试验样品从研制样机中取得。可靠性工程试验包括环境应力筛选和可靠性增长试验。从试验性质来分析，现行的老炼也属于工程试验项目；由环境应力筛选发展起来的可靠性保证试验也可归纳于此。工程试验的出发点是：尽量地暴露产品的问题、缺陷，并采取措施纠正，再验证问题得到解决、缺陷得到消除与否。经过工程试验的产品，其可靠性自然会提高，满足用户要求的可能性也必然增大。可见，可靠性工程试验是产品的可靠性基础工作，是产品研制生产的工艺过程。

    (2) 可靠性验证试验，从试验原理来说，要应用统计抽样理论，因此又称统计试验。其目的是为了验证产品是否符合规定的可靠性要求，由承制方根据有关标准和研制生产进度制订方案和计划，经定购方认可；重点型号装备的验证试验方案还需报上级机关批准，由有关各方组织联合试验小组。验证试验包括产品研制的可靠性鉴定试验和批量生产的可靠性验收试验。这类试验必须能够反映装备的可靠性定量水平，因此试验条件要尽量接近使用的环境应力；试验结果要作出接收或拒收的判断，因此对试验时间和发生的故障应作详细记录，经过与失效判据的对比分析后，试验各方统一认识后才能作出最后的结论。

1.3.2  装备可靠性试验项目的区别

    产品研制生产过程除进行可靠性试验之外,一般还要进行环境（鉴定）试验，各种试验的目的不同，不能相互取代，它们的区别可参阅表1-2-1。