广告招募

当前位置:全球装备网 > 技术中心 > 所有分类

激光粒度仪测粒径原理:揭秘微观颗粒的奥秘

2025年06月02日 14:56:19      来源:德国新帕泰克有限公司苏州代表处 >> 进入该公司展台      阅读量:1

分享:

  激光粒度仪是一种常用的仪器,用于测量和分析微观颗粒的粒径分布。它基于激光散射原理,通过测量颗粒对激光的散射强度和角度来推断颗粒的粒径大小。粒度仪利用激光与微观颗粒的相互作用来测量颗粒的粒径。其原理基于以下两个关键概念:
  
  1、光散射:当激光束照射到颗粒上时,光线会与颗粒表面发生散射。散射的强度和方向与颗粒的大小和形状有关。较大的颗粒会产生更多的散射光,并且散射光的角度也会随着颗粒的大小而改变。
  
  2、Mie散射理论:Mie散射理论是描述散射现象的数学模型,适用于介质中的微观颗粒。根据Mie散射理论,颗粒的散射强度和散射角度与颗粒的粒径密切相关。通过测量散射光的强度和角度,可以推断出颗粒的粒径分布。
  

激光粒度仪

 

  激光粒度仪通常采用光散射法进行粒径测量。其工作流程包括以下几个步骤:
  
  1、激光照射:粒度仪通过激光器产生一束单色、单向的激光束,照射到待测样品中的微观颗粒上。
  
  2、散射检测:仪器中设有光散射探测器,用于测量颗粒对激光的散射光强度。根据散射光的强度和角度分布,可以推断出颗粒的粒径大小。
  
  3、数据分析:粒度仪会对散射光的强度和角度数据进行处理和分析。通过与预先建立的散射模型进行比对,可以得到颗粒的粒径分布曲线。
  
  4、结果输出:最终,粒度仪会将测得的粒径分布结果以图形或数值形式输出,提供给用户进行进一步的分析和研究。
  
  在粉体工程领域,激光粒度仪可以帮助研究人员了解粉体颗粒的大小分布和形态特征。这对于粉体的制备、加工和性能评估非常关键。
  
版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:全球装备网"的所有作品,版权均属于全球装备网,转载请必须注明全球装备网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。