1. 当背景的发射强度随样品与样品的不同或样品和标准的不同（由于成分的变化）而发生变化时就需要背景校正。连续发射或翼拓展可能造成背景强度的变化，样品的不同也会导致背景干扰。
相同含量（同是1ppm的）不同基体的同元素谱线可能强度峰高就不一样如不进行背景校正，则峰高和含量就不对应，而扣除背景后的净峰高（净强度）就相同了，对应的含量才相同。
2. ICP光谱仪分析样品与曲线扫描的图谱分析，然后采取是否扣除背景，不是任何测试都得扣除背景。
3. 不同的元素都会因多种原因造成"贡献"干扰的(干扰信号所产生的强度造成分析元素的谱线强度的变化),这就需要采用背景扣除的方式来进行校准.
4. 谱线背景会对定量分析产生干扰，这种干扰属于光谱干扰，如果分析时不将其从表观信号中扣除，就会使元素分析结果偏高。