BTX Profiler将2维传输XRD和能量色散XRF分析性能结合在一起，可以进行全面的材料组成成份分析。包含能量、地球化学、制药、催化剂、法医学及教育在内的多种工业及科研领域，都是日下X Profiler发挥其高超的无损检测性能的用武之地。

X射线衍射和X射线荧光组合技术

BTX Profiler可在XRD结构分析(矿物学/结晶相)和XRF元素分析应用中发挥业内的性能。要做到这点，需要在全面的材料组成成份分析的过程中，选择具体分析的优化技术，以将仪器的分析性能发挥到。

二维传输(2-D) XRD分析技术将一个微聚焦X射线源与一个高分辨率的电荷藕合器件(CCD)探测器结合在一起使用。

这种技术的开发基于火星科学实验室“好奇”号曾经使用的获奖设计。

能量色散(ED) XRF分析技术使用一个袖珍X射线管的可选、优化的光束路径，以及专用于高级、大区域硅漂移探测器(SDD)的过滤器。这种技术的开发基于Olympus的XRF分析仪器所使用的获奖设计。

XRD和XRF组合技术

1 . XRD微聚焦X射线管

2. XRD X射线束

3. XRD准直器

4. XRD样品

5. CCD探测器

6. XRF X射线管

7. 滤光轮

8. XRF X射线束

9. XRF样品

10. XRF SDD探测器