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滑坡滑带土如何利用x射线衍射仪对其进行研究?

2025年11月28日 18:38:35      来源:深圳市莱雷科技发展有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:1

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X射线衍射仪在应用上是有着极其广阔的应用领域的,然而如何利用X射线仪对滑坡滑带的土壤进行研究呢?今天我们就要在这里为大家做一份简单的介绍供相关科研院校的学生或研究员学习。

当前国内外滑坡研究的重要特点之一就是研究方法、手段的不断创新和发展#许多新的理论和方法在工程实践中得到了广泛的应用。在研究手段上由传统的监测试验手段向、实测、综合手段方向发展,例如,目前广泛采用3s(GPS,GIS,RS).,监测手段及综合原位测试技术,对滑坡的宏观变形规律及微观形成过程进行综合监测与分析。

但是,如何利用现有的技术方法和手段以减少滑坡的影响,并准确判断滑坡的稳定性、形成机制,预测滑坡的滑动时间,这是工程技术人员所要面对的一个重要现实问题。近几年国外学者利用扫描电子显微镜(SEM),和x射线能谱(EDX),研究滑坡滑带土的微结构和矿物组合#进而研究滑坡的形成机制和剪切强度,这是滑坡研究领域的有益尝试。

1996年至今,我们利用SEM 和 X射线衍射仪(XRD),分析了三峡库区和黄河小浪底等地40个滑坡滑带土的微结构和物质组合,根据微结构的变化特征和物质组合判断滑坡的活动方式和阶段,研究滑坡的形成机理,评价滑坡的稳定性,判断古滑坡的复活,为预测未知地区同类型滑坡的活动性提供判别依据。由于该方法具有快速和经济的优点,在滑坡的调查和治理中,已经得到部分生产单位的应用。

据有着多年XRD(x射线衍射仪)使用经验的深圳莱雷科技技术部的刘先生介绍,滑坡滑动面为滑坡物理力学作用(温度和压力)的产物,它记录了滑坡的活动历史,滑坡的微观变形是滑坡宏观变形的前兆+滑带土的物质组分与滑坡的形成机制和抗剪强度紧密相关。因此,研究滑坡滑带土的微结构和物质组合在滑坡稳定性评价和治理中具有重要意义,而SEM 和XRD(x射线衍射仪)是研究微结构和矿物组合的手段。


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