超精密差分面源黑体作为红外校准系统的重要组成部分，具备差分模式与模式两种运行方式。差分模式以固定环境温度（通常为20℃或25℃）的基准黑体为参考，通过比较目标黑体与基准之间的温差，实现高灵敏度的相对温度测量，能够精确捕捉微小热辐射差异，适用于高精度温度差检测场景。模式则允许独立设定和维持辐射源温度，通过高精度温控系统实现恒定辐射输出，为红外测温仪、热像仪等设备提供可靠的温度标准。

上海明策科技的TCB系列超精密差分面源黑体采用的控制系统，具备高发射率、高均匀性与mK级温度分辨率，可在−20℃至70℃范围内稳定运行。其双模式设计不仅提升了温度校准的精度与灵活性，也为红外成像设备的辐射定标和非均匀性校正提供了高可靠性的技术支撑。

关键词： 超精密差分面源黑体；差分模式；模式；红外辐射定标；温度控制

一、两种工作模式简介

（1）差分模式——聚焦微小温差

该模式以环境温度（通常为20℃或25℃的固定基准黑体）为参考，通过比较目标黑体与基准黑体之间的温度差来实现测量。此模式专注于相对温度的变化，能够敏锐捕捉极微小的热差异，进而获取高精度的辐射数据。由于其具备很高的灵敏度与稳定性，差分模式非常适用于需要检测细微温度变化的高精度实验或测试场合。

（2）模式——提供独立温度基准

在模式下，黑体辐射源的温度可以单独设定与控制，其表面辐射温度明确可知且保持稳定。依托精密的温控系统，该模式能够实现准确的温度设定与恒定维持，从而确保温度的可靠性。作为独立的标准源，它常用于红外测温仪与热像仪的标定，为各类测量设备提供稳定、可追溯的温度参考。值得注意的是，在实际应用中，差分模式与模式的结合能够显著提升测量的准确性与数据的完整性，获得更为全面的实验结果。

二、TCB系列超精密差分面源黑体简介

上海明策电子科技的TCB系列超精密差分面源黑体可输出高标准红外辐射，广泛应用于红外成像仪的地面辐射定标实验及性能测试。

该系列产品采用的温控系统，可在宽温范围内实现精准调节。其具有高发射率、高均匀度及高控温精度等优异性能，能适应实验室与外场多种环境下的定标与非均匀性校正任务。

主要特征包括：

• 具备低温防结霜功能

• 可自由切换与差分两种模式

• 辐射面发射率与均匀性高

• 温度分辨率可达毫开尔文（mK）级

• 可在−20℃至70℃的广泛温度范围下稳定运行

  
  

差分与两种模式是充分发挥超精密面源黑体性能的关键所在。上海明策科技的TCB系列超精密差分面源黑体通过灵活支持双模式操作，为不同实验与标定需求提供了可靠解决方案，在红外成像设备的精密辐射定标与性能优化中发挥着重要作用。