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2000℃高温材料光谱发射率测量:​超高温黑体+FTIR光谱仪

2025年12月30日 17:45:54      来源:上海明策电子科技有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:1

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利用能量对比法测量高温材料发射率

高温材料在航空航天、能源转换、红外隐身及辐射测温等诸多领域中发挥着关键作用,而精确掌握其光谱发射率是实现热辐射特性评估与控制的基础。由于材料发射率并非物质的本征属性,而是与温度、波长、表面状态等因素密切相关,因此其测量在高温条件下尤为复杂。本文聚焦于“能量对比法"在高温材料光谱发射率测量中的原理、系统实现及优势。


一、能量对比法原理概述


能量对比法是一种基于发射率定义的直接测量方法。具体而言,在相同的温度、波长和视角条件下,测量待测材料与理想黑体的辐射能量,二者之比即为材料在该条件下的光谱发射率。其基本公式如下:

ε(λ,T)=Lsample(λ,T)Lblackbody(λ,T)

其中LsampleLblackbody分别表示样品与黑体在波长λ和温度T条件下的辐射亮度。由于该方法无需对发射率模型进行假设,具有理论清晰、准确性高等优点,成为当前高温发射率研究中的主流技术之一。


二、测量系统构建与温度范围


研究人员构建了一套基于能量对比法的高温光谱发射率测量系统。该系统涵盖了从中温段(473 K)至超高温段(2373 K)的宽温度范围,并可覆盖从近红外到远红外(0.8–27 μm)的波长区间。

系统采用独立黑体作为标准辐射源,通过高精度温控装置实现样品与黑体温度的一致性。为确保测量光路的一致性,系统在结构上采用对称光路设计,并利用傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)结合多波段红外探测器,实现宽光谱高分辨率的辐射能量采集。此外,还通过激光对准和真空腔体设计,降低了背景辐射和信号干扰。


三、测量策略与样品适配


为适应宽温区间内不同材料的发射率测量需求,系统采用“分温区测量策略",在中温区(473–1073 K)与高温区(1073–2373 K)分别布设了不同的加热装置与控温模块。高温段采用大功率直流电源加热,样品放置在高纯钨舟中,通过红外高温计与热电偶联合测温,确保温控精度达 ±1 K。

通过与黑体腔的同位比辐射测量,可有效评估金属(如钨、钛、铝)与非金属(如石墨)材料在高温条件下的光谱发射率。实验结果显示,该系统在2373 K的高温条件下依然保持良好的测量稳定性与重复性。


四、与其他方法的比较优势


相较于多波长法、量热法和反射法,能量对比法具有如下突出优势:

  • 原理简洁,结果可直接溯源至黑体辐射定律,避免模型拟合误差;

  • 可适配多种材料形状和高温环境,适用性强;

  • 测量精度高,综合不确定度可控制在3.8%以内;

  • 支持高温下的发射率测量,是少数能达到2000 K 以上准确测量的手段。

然而,该法对实验系统的光路一致性、温度一致性和设备稳定性提出了较高要求,系统设计与调试过程复杂。


能量对比法作为发射率测量领域的重要技术路径,尤其在高温条件下展现出的优势。其直接、精确、可扩展的特点,使其成为新材料热性能评估、热控系统设计与红外材料开发中的核心支撑技术。随着高性能红外探测器与光谱分析系统的进一步发展,基于能量对比法的发射率测量体系将持续拓展其应用边界,并在高温工程材料的研究与应用中发挥更大作用。




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