美国泛美35DL精密超声波测厚仪

美国泛美35DL精密超声波测厚仪
美国泛美35DL精密超声波测厚仪一般应可以解决大部分从极薄到极厚的厚度测量；


35和35DL用于大多数的应用中
35和35DL可使用的探头范围从2.25到30MHz，这意味着这些多功能型仪器可以解决大部分从极薄到极厚的厚度测量应用。35高精度超声波测厚仪选配高频小直径的探头（M208探头）用于较薄或者曲面工件的测量，并且能提高测量的精度。

美国泛美35和35DL精密超声波测厚仪应用
--从薄到厚的大多数材料
--薄至0.08mm（或0.003英寸）的塑料瓶、管、薄板
--薄至0.10mm（或0.004英寸）的金属容器、钢圈、机械加工零件
--气缸内孔，涡轮叶片
--玻璃灯泡，瓶子
--薄的纤维玻璃，橡胶，陶瓷和复合材料
--小半径曲面和容器
--分辨率高达0.001mm或0.0001″

美国泛美35DL高精度超声波测厚仪新功能：

实时A-SCAN（波形）和调节模式（选项）
B-扫描
DB 栅格显示
35DL系列功能

对所有的型号，声速和减薄率测量是正常模式
从0.0030″到25.0″（0.08mm到635mm）的大厚度测量范围，取决于仪器和材料
使用直接接触式、延迟式和水浸式探头
具有默认设置和用户自定义设置应用自动－调用功能
手持式，重量仅8.5oz.（0.24kg）
*小/*大值模式
高－低报警
英制和公制单位显示（英寸/毫米）
35DL高精度超声波测厚仪多种语言用户界面
长的电池寿命