绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统的技术指标与配件参数

产品简介

绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统是一种信赖性试验设备，它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），

观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况，从而评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象的影响。

技术指标：

测量电压:100 ~ 1500V（可定制）

测试通道:128通道（可定制至高960通道）

测试时长:可连续运行1500小时

测试温度:85℃（可定制）

测试湿度:85%（可定制）

测量范围:1×10^5 ~ 1×10^15Ω

极化电压:100 ~ 1500V（可定制）

扫描周期:至快2分钟（128通道）

环境试验箱（可定制）

恒温试验箱：

型号：HC-80

温度范围：RT~＋100℃

内部容积（L）：80

型号：HC~512

温度范围：RT~＋200℃

内部容积（L）：512

迷你高低温环境箱：

支持覆盖超低温范围的较宽温度范围(-40℃/-70℃)至高温范围(+100℃/+150℃)，具备超温保护切断加热断路器功能。

型号：HC-35

温度范围：-40~＋100℃

内部容积(L)：35

型号：HC-70

温度范围：-70~＋200℃

内部容积（L）：70

应用领域

电子材料：印BGA、CSP等节距IC封装件；

封装材料：助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板材料；

有机半导体：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

电子元器件：电容、连接器等其他电子元器件及材料；

绝缘材料：各种绝缘材料的吸湿性特性评估。