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电弱点测试仪试验时薄膜处理条件和试验条件

2026年04月03日 17:53:52      来源:北京华测试验仪器有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:1

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取样、预处理条件和试验条件

 

1.取样

 

从薄卷上取样时,应至少先去掉其外三层薄膜,然后,再按性能的要求取样及制样。取样时的环境条件同试验条件。北京华测HCRD-300型电弱点测试仪可根据薄膜的使用宽度进行电弱点的测试,测试宽度根据用户的要求而调整设定,无须将薄分切成小卷

 

2.预处理条件

 

除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外,作为样品的薄膜卷应在温度232、相对湿度 50%5%下至少放置24 h(小时),取好的试样应在该条件下处理1h(小时)。

                                                                                                                                                         

3.试验条件

 

除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外,试验应在温度232、相对湿度50%5%、环境 洁净度不大于3000级的条件下进行

备注:适用于
聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等绝缘材料。
                                                                                                                                           

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