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HCP650-PM温控探针台选择标准

2026年04月04日 13:21:21      来源:北京华测试验仪器有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:3

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HCP650-PM温控探针台



一、温控探针台简介:

HCP650-PM温控探针台可单独使用,也可搭配显微镜/光谱仪使用。 其可在-190°C ~ 600°C范围内控温同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。 探针台上盖与底壳构成—个气密腔,可往内充入氮气等保护气体,来防止样品在负温下结霜,或高温下氧化。

 

HCP650-PM温控探针台是一款温度范图-190°C~600°C 的温控探针台。 使用时还可对样品气氛进行控制。 这样即使在低温度下,腔体也不产生结霜影响实验, 又可以防止样品发生氧化。此款温控探针台通过杠杆式支架, 使用的是弯针探针。 相比传统的直针探针, 这种设计不仅点针更准确, 而且点针力度更大, 和样品的 电接触性更胜。

 

冷热台可配合KEITHLEY Keysight等品牌测量源表进行电学性能测量。






二、温控探针台产品特点:

1、可编程精密控温。可独立控制

2、探针需开盖移动,样品台面电接地

3、4探针,分别导通冷热台外壳上的4个BNC接口杠杆式探针支架,电接触性更好弯针探针,点针更准确

4、默认气密腔室,2个快速自锁接头,可充保护气体 上盖带有样品观察窗

5、干燥气体管道,用千负温时对视窗的除霜

6、视窗可拆卸与更换,不同材质窗片实现不同观察


三、温控探针台温控参数:

温度范围-190°C ~ 600°C (负温需配液氮制冷系统)

传感器/温控方式 1000铅° RTD / PID控制° (含LVDC°降噪电源)

zui da加热/制冷速度:+80 (/min (100 (时)-50 (/min (100°(时)

小加热/制冷速度:±0.01°C /min

温度分辨率:0.01°C

温度稳定性:±0.05°C(>25°C),±0.1°C(>25°C)

软件工程:可设温控速率,可设温控程序,可记录温控曲线 

 

加热参数

加热区/样品区: 28mm x30 mm

样品腔高:6.3mm *样品zui厚度由探针决定

放样:打开上盖后置入样品再点针,关上盖后无法移动探针

气氛控制:气密腔,可充入保护气体

外壳冷却:可通循环水,以维持外壳温度在常温附近

安装方式:水平安装或垂直安装

台体尺寸/重量:180mm x 130 mm x 26 mm/ 1500g














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