HCTZ-2S型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的用仪器。
仪器由主机、探针测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由四探针测试仪主机直接显示，亦可与计算机相连接通过四探针软件测试系统控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析。
仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
设备保养：
经常保持设备和计算机的清洁、卫生。
预防高温、过湿、灰尘、腐蚀性介质、水等浸入机器或计算机内部。
定期检查，保持零件、部件的完整性。
注意事项：
1、仪器操作请您仔细阅读使用说明书，规范操作
2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量
3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象
4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
