单端TDR测试探头（Single Ended TDR/TDT Probe）产品简介

阻抗差分探头（TDR-Probe）产品简介

型号： 20G   型号编码：SP-GS-035-20F

产品简介

“全仪测控”开发的TDR/TDT 单端测试探头采用时域反射技术的原理，能在线检测PCB传输线阻抗值，并能对高速PCB信号线阻抗变化进行高精度在线批量测试。

这是一款符合人体工程学设计的手持式探头，可以将 TDR/TDT 模块（例如 54754A）连接到缺少通用同轴高频连接器的印刷电路板（PCB）和器件。探头有内置的旋轮，通过旋轮可以调节差分探针之间的间距，使之能够良好地接触焊盘或测试接入点。这些测试接入点的间距可以从极微小的（0.5 mm）到典型 IC 引脚间距（2.54 mm）不等。

适用场景：

可适用于PCB、PFC线路板、高频电缆及高频线材等企业

• 设计研发

• 验证解析

• 品质检验

• 生产测试

射频工程师通过TDR/TDT 测试探头组成的测试系统，可有效分析被测件引起反射、对设计的信号完整性（SI）产生不利影响的位置。PCB/FPC的品质部门/测试部门也可以通过该测试系统确定短路、开路或其他缺陷的位置，从而控制每批产品的工艺一致性，由此提升工艺品质。

使用方式：

TDR-Probe可与以下器件结合使用：

      1、 是德/安捷伦 KEYSIGHT 86100C Infiniium DCA-J宽带示波器；

      2、 Agilent 86100C-202 增强型阻抗和 S 参数软件；

      3、 Agilent  54754A 差分和单端 TDR-TDT 模块。

     TDR-Prob给被测件（DUT）施加小电子步进信号，并接收其响应。响应将在时域中进行处理和显示，或作为 S 参数（SDD11、SDD22、SDD21 或 SDD22）进行处理和显示。时域测量可以显示反射的电压或观察到的阻抗随时间或距离的变化。S 参数测量包括幅度、相位和群延迟。