N8DiffraX可支持温度、气氛、湿度、压力、电化学及反应过程等多类型原位XRD分析，帮助用户在接近真实工况的条件下实时观察材料的物相转变、晶体结构演变、晶格参数变化与反应中间态。通过连续追踪外场作用下的结构响应，N8DiffraX可为相变机制研究、热稳定性评估、电池充放电过程分析、催化反应过程表征及材料性能关联研究提供更直接、更可靠的实验依据。
每一次材料创新，都始于对结构的深入理解。N8 DiffraX 以 X 射线衍射为核心，为先进材料、复杂体系与多场景应用提供系统化分析能力。无论是基础研究、工艺开发，还是质量验证，它都能帮助用户捕捉材料中的关键信息，让结构表征成为推动创新的可靠力量。
基础数据质量是一切的基石：
峰位正确性、角度分辨率、信噪比与重复性，是衡量 X 射线衍射仪基础性能的核心指标。它们直接决定了物相识别的准确性、细微结构差异的分辨能力、弱信号的捕捉能力，以及长期测试结果的一致性。N8 DiffraX 回归衍射分析的基础能力建设，通过扎实的系统设计与精密工程控制，持续提升这些关键数据表现，为复杂材料表征和高性能应用提供可靠支撑。
图片2.png
·每台发货系统随机配置SRM1976c,全谱角度验收
·全谱范围内(20~140°/2θ)角度位置准确性优于±0.01°
图片3.png
·实测 SRM 660c LaB6(110)峰的FWHM优于 0.026°
图片4.png
·15 次重复性测试验证,峰位标准偏差达到万分之级别，最大偏移量优于0.001度
·万分之级角度重复性带来更可靠、更敏感的结构分析能力
·测试样品： 石英固体标准样品 (101)晶面 SS 0.01度，ST 0.2s
DiffraX Vertex One™系统
DiffraX Vertex Pro™系统
原位分析
多功能落地式X射线衍射仪(XRD)主要技术参数：
测角仪
垂直测角仪
测量半径
预设为300mm 可连续改变
2Theta角度测量范围
(取决于附件)
-110到+168度
测角仪定位方式
步进马达+光学编码器
最小步长
0.0001度
全谱验收精度
NIST SRM 1976c 全谱优于正负0.01度
X射线波长
Cu、Co、Mo、Ag、Cr等
X射线发生器
3KW或者4kW
X射线光学
0D多层膜反射镜
1D 多层膜反射镜(平行或聚焦)
2D多层膜反射镜
探测器
PhiniX Line™ (基于MYTHEN2)一维阵列探测器
PhiniX Area™ (基于EIGER2)二维阵列探测器
PhiniX XE™ (基于POLLUX)二维能量分辨阵列探测器
系统能量分辨率
(取决于配置)
300eV-600eV
外部尺寸高x深x宽：
156cm×114mm×205cm
重量:
大于650Kg
电源:
单相：210-240 V
最大能量消耗：
6.5kVA
冷却水供应：
最小3.8l/min,压力 4-7 bar，温度10-23摄氏度
