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关于仪器结构及精度
更新日期:2016-11-11精密仪器的核心使用价值是仪器本身的精度及精度保持性,精达公司生产齿轮量仪,从仪器设计及生产工艺,包括精密量仪的生产条件,都是多年积累的基础。精达公司近年来对齿轮测量中心产...
2025/1/2511 -
CCD探测器与CID探测器的概念是什么?
更新日期:2011-2-28CCD(Charge-coupledDevice)的概念CCD,英文全称:Charge-coupledDevice,中文全称:电荷耦合元件。可以称为CCD图像传感器。CCD...
2025/1/2524 -
关于国内“齿轮测量中心”的技术发展过程中的一些概念的澄清
更新日期:2014-9-3“齿轮测量中心”的产品、技术、市场在国内经历了十多年的发展历程,从精达JD系列齿轮测量中心首先被行业认可并大量推向市场,到后来形成精达JD系列与哈量39xx系列平分市场的格局...
2025/1/2512 -
关于齿轮测量中心测头技术的特别说明
更新日期:2014-9-3测头技术是齿轮测量中心的关键核心技术之一,精达早期技术以瑞士TESAGT31双向测力传感器作为测量元件,可旋转90度并增加径向“触发”功能结合数控系统实现“误操作保护”、整体...
2025/1/2512 -
关于齿轮测量中心测量“公法线”、“跨棒距”、“M值”等功能的情况说明
更新日期:2014-9-3对于最近行业个别人刻意炒作的用齿轮测量中心测量“公法线”、“跨棒距”、“M值”等功能,我公司认为该类误差项目仅是在特殊工艺条件下的参考辅助功能,建议谨慎采用,由于涉及因素较多...
2025/1/2510