德国FISCHER菲希尔台式测量仪器
一台仪器，三种作业模式：XAN®500不只是一台手持便携式XRF设备，它还可以转变为台式仪器或者整合到生产线中。
MMS PC2
采用不同测量技术的模块化系统：非常适用于与涂镀层厚度测量和材料测试相关的各种需求。
CMS2
台式测厚仪，几乎可测量金属或非金属底材上所有金属镀层（包括多镀层）的厚度。
GOLDSCOPE
GOLDSCOPE系列X射线荧光仪器是专为分析黄金和其他贵金属而设计的
XAN
用于快速、高效地测量镀层厚度及材料成分分析的测量仪器。
XUL / XULM
基于 X 射线荧光法的测试仪器，坚固耐用，快速、高效地测量镀层厚度，特别适用于电镀行业。
XDL / XDLM / XDAL
功能强大：XDL 系列仪器具有全面的配置方案，可手动或自动测试，是镀层厚度测量与材料成分分析的理想之选。
XDV-SDD
FISCHERSCOPE® XDV-SDD专为满足要求的镀层厚度测量和材料分析而设计
XDV-µ
FISCHER的XDV-µ型系列仪器，可用于测量电子或珠宝等行业中最微小结构的产品
XUV
X 射线荧光仪器，配有用于分析轻元素的真空测量室。
XDL / XDLM / XDAL
凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。
特性：
• X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务
• 由于测量距离可以调节（可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
• 通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试
• 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）
应用：
镀层厚度测量
• 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
• 电路板上较薄的导电层和/或隔离层
• 复杂几何形状产品上的镀层
• 铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
• 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量
材料分析
• 电镀槽液分析
• 电子和半导体行业中的功能性镀层分析
德国 X 射线荧光镀层厚度测量及材料分析仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及
材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能全自
动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用自动方
式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
典型的应用领域有：
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层，例如：装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 全自动测量，如测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
XDL 240 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。
由于采用了 FISCHER 基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样
品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用户界面友好的台式测量仪器。马达驱动的 X-
Y 工作台，当测量门打开时，工作台会自动移到放置样品的位置；马达驱动的 Z 轴系
统，可编程运行。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精准定位测量位置。通过视频
窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测
量位置。
测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测
量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。
带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精准调
整。
所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能
强大而界面友好的 WinFTM ® 软件在电脑上完成。
XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受保护的仪器，型式许可符合
德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV"法规的规定。
德国X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
通用 规格
设计用途 能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定超薄镀层和溶液
分析。
元素范围 从元素 氯(17) 到 铀(92)
配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时，*多可同时测定 24 种元素
设计理念 台式仪器，测量门向上开启
测量方向 由上往下
X 射线源
X 射线管 带铍窗口的钨管
高压 三档： 30 kV，40 kV，50 kV
孔径（准直器） Ø mm 可选：Ø mm； Ø mm；长方形 mm x mm
测量点尺寸 取决于测量距离及使用的准直器大小，
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
*小的测量点大小约 Ø mm
X 射线探测
X 射线接收器
测量距离
比例接收器
0 ~ 80 mm，使用砖利保护的 DCM 测量距离补偿法
样品定位
视频系统
高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置
手动聚焦，对被测位置进行监控
十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）
可调节亮度的LED照明，激光光点用于精准定位样品
放大倍数 40x – 160x
电气参数
电源要求 220 V ，50 Hz
功率 *大 120 W （不包括计算机）
保护等级 IP40
尺寸规格
外部尺寸 宽×深×高[mm]：570×760×650
内部测量室尺寸 宽×深×高[mm]：460×495x（参考“样品*大高度"部分的说明）
重量 120 kg
环境要求
使用时温度 10°C – 40°C
存储或运输时温度 0°C – 50°C
空气相对湿度 ≤ 95 %，无结露
工作台
设计 马达驱动，可编程 X/Y 平台
255 x 235 mm
≤ 80 mm/s
≤ mm 单向
300 x 350 mm
马达驱动，可编程运行
140 mm
5 kg，降低精度可达 20kg
140 mm
有
X/Y 平台*大移动范围
X/Y 平台移动速度
X/Y 平台移动重复精度
可用样品放置区域
Z 轴
Z 轴移动范围
样品*大重量
样品*大高度
激光（1 级）定位点
计算单元
计算机 带扩展卡的 Windows ® 计算机系统
软件 标准： WinFTM ® LIGHT
可选： WinFTM ® BASIC，PDM，SUPER
执行标准
CE 合格标准 EN 61010
型式许可 作为受保护的仪器
型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV"法规的规定。
订货号
FISCHERSCOPE X-RAY XDL240 604-498
如有特殊要求，可与 FISCHER 磋商，定制特殊的 XDL 型号。
FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen – Germany 的注册商标。
Windows ® 是 Microsoft Corporation 在美国及其他地区的注册商标。
所有评论仅代表网友意见，与本站立场无关。