仪器简介

JYC3200综合CV性能测试仪，内部包含高性能的进口精密LCR表、线性直流电源和探针台等组成。可以针对各种形式材料器件，如：封装的、晶圆片、有无电极的材料等形式；可用于测试半导体材料：铁电、压电、晶体等材料和MOS器件、BJT器件、光电器件、传感器、等的阻抗特性，是一款真正的用途广泛、功能强大、性价比很高的测试仪器。

1）重要特点

1、全中文图形化的用户界面，功能设置灵活方便，参数设置提供多种选择。
2、实时显示图形曲线，自动存储测试数据；是性价比高的、人人可以拥有的实用仪器！
3、主要软件功能：
可以进行C-F扫频测试，C-t时间采样测试，以及C-V特性测试。

2）主要性能指标

1、CMU模块1个
频率范围为 1KHz 至 1MHz，最小分辨率: 0.01Hz（1KHz以下）
测试信号电平范围：0 Vrms - 1 Vrms
提供 ±40 V直流偏置
2、电源模块：60V/2A，分辨率为10mv/1mA