XAU系列能量色散X荧光光谱分析仪，是一款配备SDD探测器的高效率镀层测厚仪！
此款产品可适用于固体和液体的含量检测，用于液体中高含量金属成分的检测，满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和*的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试极微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm，可检测镀层厚度0.005um ，最小测量面积0.04mm2 · 凹槽深度测量范围可达0至30mm，特殊要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都可轻松操作。
| 技术参数： |
| 1.探测器：半导体冷却硅漂移SDD探测器 |
2.探测器分辨率：130±5ev (可检测元素范围：钠（Na）~铀（U）) |
| 3.涂镀层分析范围：各种元素及有机物 |
| 4.可一次性同时分析：23层镀层，24种元素 |
| 5.最小测量面积：0.04mm2 |
| 6.对焦距离：0-30mm，特殊要求可达90mm |
| 7.样品腔尺寸：500mm×360mm×215mm |
| 8.仪器尺寸：550mm×480mm×470mm |
9.仪器重量：45kg |
| 仪器配置： |
| 1.微焦X射线发生器 |
| 2.光路转换聚焦系统 |
| 3.高敏变焦测距装置 |
| 4.半导体冷却硅漂移SDD探测器 |
| 5.*的数字多道分析 |
| 6.高精度微型移动滑轨 |
| 7.标准片Ni/Fe 5um |
| 8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
所有评论仅代表网友意见，与本站立场无关。