主要特点
● 磁轭结构:采用单磁轭或双磁轭进行磁性能测量。
● 双磁轭:对磁轭进行退磁及测试磁轭的损耗时采用。
● 单磁轭:测量铁基非晶样品时采用,以避免上磁轭的自重对样品产生应力而使材料的磁性能恶化。
● 测试线圈:包含框架、外部的初级绕组、内部的次级绕组和位于试样下方的 H 线圈。
● 测试方法:磁场强度的测量兼容电流法 ( M.C ) 和 磁场线圈法 ( H-Coil,使用 H 线圈准确测量 )。
● 主要使用的测试系统:TD8160 单片非晶磁性测量系统
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TD8725 非晶测量用单片磁导计 暂无内容
主要特点
● 磁轭结构:采用单磁轭或双磁轭进行磁性能测量。
● 双磁轭:对磁轭进行退磁及测试磁轭的损耗时采用。
● 单磁轭:测量铁基非晶样品时采用,以避免上磁轭的自重对样品产生应力而使材料的磁性能恶化。
● 测试线圈:包含框架、外部的初级绕组、内部的次级绕组和位于试样下方的 H 线圈。
● 测试方法:磁场强度的测量兼容电流法 ( M.C ) 和 磁场线圈法 ( H-Coil,使用 H 线圈准确测量 )。
● 主要使用的测试系统:TD8160 单片非晶磁性测量系统
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