颗粒图像分析仪EyeTech是新一代颗粒粒度和粒形分析仪。我们在粒度和粒形分析方面具有丰富的经验，为各种应用引入了满足各种不同应用需求的粒径粒形分析方法。

激光粒度粒形分析仪

测量原理

粒径分析 (PSA)

EyeTech 激光粒度仪采用有名的激光遮挡法（LOT）。这是一种针对旋转的激光光束遮挡时间 的粒径分析技术。样品中颗粒被聚焦的He-Ne 激光扫描，该激光采用楔形棱镜，以200Hz的速度旋转。在角速度已知的情况下，每一颗粒的直径都可以用遮挡信号的持续时间来计算。这免除了其它分析技术所需的对检测器灵敏度进行校正的必要性。

EyeTech 激光粒度仪具有高精度、可靠性和重复性。我们激光方法在600个不连续的时间间隔进行粒径测量，得到高分辨率的粒径分布。颗粒粒径是直接测出来的，而不是通过粒径的二级特点推算出来的。不受折射率指数、粘度变化、布朗运动、热传导和其它物理现象的影响。

动态粒形分析 (DSC)

动态粒形分析采用样品的原位图像来分析粒形特征。收集颗粒数字图像并分析大量形状参数。动态显微镜同步频闪光在颗粒在动态流动过程中，可以连续捕捉“静止”图片。这样就不必停止液体流动和限制对静止物体的监测。大量图片被放大、处理和自动分析，确保结果具有充分的代表性。图像和统计数据都可以打印或储存，作为样品记录。

激光粒度粒形分析仪

特别特征

模块化设计

可互换的测量池模块能够分析各种状态的颗粒，液体、粉末、气溶胶、膏状、薄膜和乳剂。还有特别的测量池用于高浓度样品测量。采用基于工业P4 电脑开发的ACU，模块化的EyeTech可以被很方便地整合到任何实验室。

高速度

EyeTech的粒径分析速度非常快。EyeTech用了一种特别快速的扫描和分析装置。低浓度的颗粒能够在30秒之内测好。

宽范围

激光通道可以测定0.1到2000 µm 的颗粒。使用动态高速视频通道，可以在几分钟内测量成千上万颗颗粒的图像，粒径从2µm~3600µm。动态粒形分析能够获得高质量的、高对比度的图像，能够定义和测量低对比度的目标。

样品分析测量池和样品分散装置

EyeTech具有大量自动化的耐用的样品分析测量池和样品分散装置，可以根据具体要求，测量各种不同的湿样和干的样品。

主要技术特点：

1. 直接对每个颗粒进行测量得到颗粒分布，不是根据其他二级特性推算出来的颗粒分布;
2. 不会因为样品折射指数、粘度变化、布朗运动和热对流等不确定因素引起测量误差;
3. 分析结果不依于赖颗粒或分散介质的光学特性，可以测量高折射率颗粒、透明颗粒、半透明颗粒以及混合材料颗粒;
4. 多种测量池，适合进行各种样品干态、湿态分析
5. 自动校准，免校正和标定;
6. 高分辨率、可重复性和宽动态范围;
7. 提供弗雷特（Feret）直径、面积、周长、形状因子、长细比、凹凸度、椭圆度等等40个颗粒粒度和粒形参数;
8. “眼见为实” ― 我们的视频通道除了能够进行粒形分析，还可以给您测量颗粒的实时动态图像Video显示。

*的颗粒信息数据库功能，每个颗粒的图像和粒形信息都存储在数据库里，方便查阅、比较和检索

测量池具体配置

1. ACM-101 电磁扰动测量池
2. ACM-102机械扰动测量池
3. ACM-104A 流动式液体测量池
4. ACM-108微流量测量池
5. ACM-110显微镜载片测量池
6. ACM-112自由落体式测量池
7. ACM-106 气溶胶测量池
8. ACM-111 温控测量池