PICTOS的特点
*从5微米到3500微米颗粒的粒度和粒形同时分析
*适合同现有的取样系统结合，如代表性取样系统TWISTER， 单探针式取样系统或者是混样器。
*有效的分散取代了原来需要通过软件来修正图形边界的问题，测试结果更精确。
*得到高速颗粒流的准静态图像
*清晰的图像边界，颗粒的大小和清晰度同颗粒在测试区域的位置无关(无景深)
*以黑色轮廓清楚地显示颗粒的边界，实现对全透明颗粒的检测
*短时间内得到大量颗粒的清晰图像，测试结果的统计性好
*用户自定义数据分级功能满足用户对数据细分高达30000级，对分布曲线上的任何一个分级点无限制。
预定义的分级数据已储存于软件中，包括HELOS系列数据等级、筛分分级点等等
*大量的计算模式可供选择
测试完毕后可以重新选择模式进行计算和数据处理：
粒度分析：等效投影圆面积径，Feret径等等
粒形分析：球形度、长细比和不规则度
纤维分析：纤维长度、纤维粒径、弯曲系数和复杂结构的分析
颗粒图形库：根据筛选条件显示并打印出用户挑选出的特定颗粒，追溯颗粒原始运动情况，如筛选球形颗粒所占的比例等
用户自定义分析：提供基于满足用户所定义和要求的粒度粒形分析。
*PICTOS符合21 CFR Rule 11的电子文档和电子签名的安全性要求。
